[发明专利]基于HM276层叠式电子产品的测试台及其测试方法

摘要

本发明涉及卫星电子产品的测试设备，公开了一种基于HM276层叠式电子产品的测试台。本发明还涉及该电子产品测试台的测试方法。通过测试服务器[110]和主控板[108]，向被测试板[109]发送控制和数据信息流，观测HM276控制总线[102]上数据状态和被测试板[109]的数据交互状态；同时可以将多块被测试板[109]通过测试台[101]互联，进行多板的控制和数据通讯测试。本发明解决了现有基于HM276层叠式电子产品测试的安全性缺陷和测试覆盖性差的问题，提高层叠式电子产品的测试安全性和效率性，取得有效降低测试成本、提高测试效率的有益效果。

主权项

一种基于HM276层叠式电子产品的测试台，其特征在于，该装置包括：一个测试台，其上安装有可移动滑块，可移动滑块上安装有活动HM276插拔部件，用于连接被测试板和HM276控制总线；外接电源与供电柱连接，用于对被测试板的供电，以及电压和电流监测；测试台上设置有总线测试排孔，用于连接示波器和电压表，并通过活动HM276插拔部件与HM276控制总线和被测试板连接；测试台的电源输入处的活动HM276插拔部件上安装有主控板，用于控制整个测试台，通过测试电缆与综合电子产品测试服务器连接，接收测试服务器的测试向量，通过HM276控制总线完成对被测试板的控制和数据通讯，在测试服务器上观察测试结果，并完成数据的分析；测试设备用于对被测试板上正面或反面的信号进行测量和观察。