[发明专利]基于HM276层叠式电子产品的测试台及其测试方法无效
申请号: | 201110366078.1 | 申请日: | 2011-11-17 |
公开(公告)号: | CN103116119A | 公开(公告)日: | 2013-05-22 |
发明(设计)人: | 高洁;樊友诚;邢方圆;朱英 | 申请(专利权)人: | 上海航天测控通信研究所 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人: | 郑丹力 |
地址: | 200086 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 hm276 层叠 电子产品 测试 及其 方法 | ||
1.一种基于HM276层叠式电子产品的测试台,其特征在于,该装置包括:
一个测试台,其上安装有可移动滑块,可移动滑块上安装有活动HM276插拔部件,用于连接被测试板和HM276控制总线;外接电源与供电柱连接,用于对被测试板的供电,以及电压和电流监测;测试台上设置有总线测试排孔,用于连接示波器和电压表,并通过活动HM276插拔部件与HM276控制总线和被测试板连接;测试台的电源输入处的活动HM276插拔部件上安装有主控板,用于控制整个测试台,通过测试电缆与综合电子产品测试服务器连接,接收测试服务器的测试向量,通过HM276控制总线完成对被测试板的控制和数据通讯,在测试服务器上观察测试结果,并完成数据的分析;测试设备用于对被测试板上正面或反面的信号进行测量和观察。
2.如权利要求1所述的电子产品的测试台,其特征在于:所述的测试板间有15至45厘米的间距。
3.一种如权利要求1所述的基于HM276层叠式电子产品的测试台的测试方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
步骤1,对被测试板进行内阻测量,使用万用表在总线测试排孔的相应的正负电源点进行测量;
步骤2,对被测试板进行功能测试,外接电源通过供电柱向被测试板供电,观察电压、电流是否在正常范围内;
步骤3,主控板进行初始化,在测试服务器端调用主控板初始化软件,检测主控板测试前的初始状态;
步骤4,根据被测试板的地址、数据和时序要求,由测试服务器设置被测试板需要的的测试向量类型;
步骤5,向服务器调用测试向量,由测试服务器向主控板发送测试向量,包括时钟发送、固定地址的数据读写、特殊数据读写、控制信号的收发、AD测试、DA测试;
步骤6,主控板接收并转发测试向量,主控板发送的时钟、数据、地址和控制信号,经过总线隔离后进入到被测板的FPGA,由其FPGA完成数据的时序和逻辑处理,通过测试设备实时观察数据的变化,反馈数据或者直接输出数据;反馈数据由主控板进行自动数据比对;直接输出数据由测试设备实时监测;
步骤7,扩展连接多块被测试板,由接收测服务器向主控板发送测试向量,对不同的测试板进行读写控制,检验被测试板共用总线是否存在冲突。
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