[发明专利]存储器阵列中的错误校正方法及实施其的系统

说明书

一种校正存储器阵列中的错误的方法。该方法包括配置具有第一纠错码(ECC)的第一存储器阵列以提供存储在第一存储器阵列中的数据的错误校正，配置具有第二ECC的第二存储器阵列以提供存储在第一存储器阵列中的数据的错误校正，对第一存储器阵列和第二存储器阵列实施回流工艺，以及至少基于第一ECC或第二ECC校正存储在第一存储器阵列中的数据。第一存储器阵列包括布置为多行和多列的第一组存储器单元。第二存储器阵列包括布置多行和多列的第二组存储器单元。本发明还提供了实施校正存储器阵列中的错误的方法的系统。

技术领域

本发明的实施例一般地涉及半导体技术领域，更具体地，涉及存储器阵列的错误校正方法及实施其的系统。

背景技术

半导体集成电路(IC)产业制造出各种各样的数字器件来解决多个不同领域中的问题。这些数字器件中的一些(诸如存储器阵列)配置为用于存储数据。在存储器阵列的制造工艺期间，存储器阵列的部分被破坏或包含损坏的数据。

发明内容

根据本发明的一方面，提供了一种校正存储器阵列中的错误的方法，所述方法包括：配置具有第一纠错码ECC的第一存储器阵列以提供存储在所述第一存储器阵列中的数据的错误校正，所述第一存储器阵列包括布置为多行和多列的第一组存储器单元，所述第一组存储器单元中的一行存储器单元包括第一组存储器字，所述第一组存储器字中的每个字包括第一组比特；配置具有第二ECC的第二存储器阵列以提供存储在所述第一存储器阵列中的数据的错误校正，所述第二存储器阵列包括布置为多行和多列的第二组存储器单元，所述第二组存储器单元中的一行存储器单元包括第二组存储器字，所述第二组存储器字中的每个字包括第二组比特；对所述第一存储器阵列和所述第二存储器阵列实施回流工艺；以及至少基于所述第一ECC或所述第二ECC来校正存储在所述第一存储器阵列中的数据。

根据本发明的另一方面，提供了一种校正存储器阵列中的错误的方法，所述方法包括：配置具有第一纠错码ECC的第一存储器阵列以提供存储在所述第一存储器阵列中的数据的错误校正，所述第一存储器阵列包括布置为多行和多列的第一组存储器单元，所述第一组存储器单元中的一行存储器单元包括第一组存储器字，所述第一组存储器字中的每个字包括第一组比特；配置具有第一奇偶校验的第二存储器阵列的第一部分，所述第一奇偶校验配置为提供存储在所述第一存储器阵列的行中的所述数据的错误检测，所述第二存储器阵列的所述第一部分包括存储第一组数据的第二组存储器单元；配置具有第二奇偶校验的所述第二存储器阵列的第二部分，所述第二奇偶校验配置为提供存储在所述第一存储器阵列的列中的数据的错误检测，所述第二存储器阵列的所述第二部分包括存储第二组数据的第三组存储器单元；配置具有第二ECC的所述第二存储器阵列的所述第二部分以提供存储在所述第二存储器阵列的所述第二部分中的所述第二组数据的错误校正；对所述第一存储器阵列和所述第二存储器阵列实施回流工艺；至少基于(1)所述第一ECC或(2)所述第一奇偶校验和所述第二奇偶校验来校正存储在所述第一存储器阵列中的数据的至少部分；以及基于所述第二ECC来校正存储在所述第二存储器阵列的所述第二部分中的所述第二组数据。

根据本发明的又一方面，提供了一种校正存储器阵列中的错误的方法，所述方法包括：配置具有第一纠错码(ECC)的第一存储器阵列以提供存储在所述第一存储器阵列中的一组数据的错误校正，从而生成第一组数据，所述第一存储器阵列包括布置为多行和多列的第一组存储器单元，所述第一组存储器单元中的一行存储器单元包括第一组存储器字，所述第一组存储器字中的每个字包括第一组比特；将第二组数据存储在第二存储器阵列中，所述第二组数据至少包括所述第一组数据的副本，所述第二存储器阵列包括布置为多行和多列的第二组存储器单元；对所述第一存储器阵列和所述第二存储器阵列实施回流工艺；基于所述第一组数据和所述第二组数据来恢复所述第一组数据的至少部分；以及基于ECC校正所述恢复的第一组数据中的错误。