[发明专利]射频读卡器的测试系统及方法有效

专利信息
申请号: 201210003088.3 申请日: 2012-01-06
公开(公告)号: CN103199943A 公开(公告)日: 2013-07-10
发明(设计)人: 张伟 申请(专利权)人: 国民技术股份有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 杨立
地址: 518057 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 射频 读卡器 测试 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及通信领域,尤其涉及一种射频读卡器的测试系统及方法。

背景技术

RFID(Radio Frequency Identification,射频识别)移动支付日益广泛应用于人们的生活之中。RFID读卡器(以下称为射频读卡器)是RFID移动支付中的重要设备。在一种射频读卡器中,使用低频信号来控制通信距离。低频信号发射功率决定了有效通信距离。当前,射频读卡器的低频信号发射功率测试过程中,都不同程度的受到了测试环境中电磁场的干扰,因此,测试结果的可靠性比较低,使得不同的射频读卡器个体的低频信号发射功率存在不一致的情况,这也造成了不同的射频读卡器个体的有效通信距离不一致。对于射频读卡器的低频信号发射功率,目前业界没有有效的测试方法来保证各个射频读卡器产品的低频信号发射功率的一致性,并由此导致出现了射频读卡器的有效通信距离不一致的情况。这种情况的存在降低了RFID移动支付的服务质量,影响了用户的使用体验。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种射频读卡器的测试系统及方法,提高测试结果的可靠性。

为解决上述技术问题,本发明提出了一种射频读卡器的测试系统,包括:

    屏蔽装置,用于容纳射频读卡器和测试及调整装置,屏蔽测试过程中外界信号对所述射频读卡器所发射的低频信号的干扰;

    测试及调整装置,用于对所述射频读卡器发射的低频信号强度进行测试,并根据测试结果调整所述射频读卡器的低频信号发射功率;

通信终端,用于为所述射频读卡器供电,并显示所述测试结果。

进一步地,上述射频读卡器的测试系统还可具有以下特点,所述测试及调整装置包括:

低频接收模块,用于接收所述射频读卡器发射的低频信号;

主控模块,用于测试所述低频接收模块所接收的低频信号强度,并根据测试结果生成低频信号发射功率调整信息;

射频通信模块,用于通过射频通道发送所述低频信号发射功率调整信息;

电源模块,用于为所述低频接收模块、所述主控模块和所述射频通信模块供电。

进一步地,上述射频读卡器的测试系统还可具有以下特点,所述主控模块包括:

第一判断单元,用于比较所述低频接收模块所接收的低频信号强度与标准强度的差值与第一门限、第二门限的大小,所述第一门限大于所述第二门限;

第二判断单元,用于在所述低频接收模块所接收的低频信号强度与标准强度的差值小于所述第一门限并且大于所述第二门限时,比较所述低频信号强度与所述标准强度的大小;

调整单元,用于在所述低频信号强度大于所述标准强度时生成降低低频信号发射功率信息,以及在所述低频信号强度小于所述标准强度时生成提高低频信号发射功率信息,并根据所述降低低频信号发射功率信息或所述提高低频信号发射功率信息调整所述射频读卡器的低频信号发射功率。

进一步地,上述射频读卡器的测试系统还可具有以下特点,

所述低频接收模块包括:

PCB线圈,用于感应所述射频读卡器发射的低频信号;

低频放大器,用于对所述PCB线圈感应到的所述低频信号进行放大,输出放大后的低频信号给所述A/D转换芯片;

A/D转换芯片,用于将所述放大后的低频信号转换为数字信号;

所述射频通信模块包括:

射频通信芯片,用于生成射频信号,所述射频信号中携带所述低频信号发射功率调整信息;

射频天线,用于发射所述射频信号。

进一步地,上述射频读卡器的测试系统还可具有以下特点,所述屏蔽装置为屏蔽箱,所述屏蔽箱的内壁覆盖有吸波材料。

进一步地,上述射频读卡器的测试系统还可具有以下特点,所述通信终端为计算机。

进一步地,上述射频读卡器的测试系统还可具有以下特点,所述测试及调整装置通过串口-USB接口连接线与所述通信终端连接。

为解决上述技术问题,本发明还提出了一种射频读卡器的测试方法,包括:

    将待测试的射频读卡器置于屏蔽环境中;

对置于所述屏蔽环境中的所述射频读卡器发射的低频信号强度进行测试;

根据测试结果调整所述射频读卡器的低频信号发射功率。

进一步地,上述射频读卡器的测试方法还可具有以下特点,所述根据测试结果调整所述射频读卡器的低频信号发射功率包括:

比较所述低频信号强度与标准强度的差值与第一门限、第二门限的大小,所述第一门限大于所述第二门限;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国民技术股份有限公司,未经国民技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210003088.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top