[发明专利]射频读卡器的测试系统及方法有效
申请号: | 201210003088.3 | 申请日: | 2012-01-06 |
公开(公告)号: | CN103199943A | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 张伟 | 申请(专利权)人: | 国民技术股份有限公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 杨立 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射频 读卡器 测试 系统 方法 | ||
1.一种射频读卡器的测试系统,其特征在于,包括:
屏蔽装置,用于容纳射频读卡器和测试及调整装置,屏蔽测试过程中外界信号对所述射频读卡器所发射的低频信号的干扰;
测试及调整装置,用于对所述射频读卡器发射的低频信号强度进行测试,并根据测试结果调整所述射频读卡器的低频信号发射功率;
通信终端,用于为所述射频读卡器供电,并显示所述测试结果。
2.根据权利要求1所述的射频读卡器的测试系统, 其特征在于,所述测试及调整装置包括:
低频接收模块,用于接收所述射频读卡器发射的低频信号;
主控模块,用于测试所述低频接收模块所接收的低频信号强度,并根据测试结果生成低频信号发射功率调整信息;
射频通信模块,用于通过射频通道发送所述低频信号发射功率调整信息;
电源模块,用于为所述低频接收模块、所述主控模块和所述射频通信模块供电。
3.根据权利要求2所述的射频读卡器的测试系统, 其特征在于,所述主控模块包括:
第一判断单元,用于比较所述低频接收模块所接收的低频信号强度与标准强度的差值与第一门限、第二门限的大小,所述第一门限大于所述第二门限;
第二判断单元,用于在所述低频接收模块所接收的低频信号强度与标准强度的差值小于所述第一门限并且大于所述第二门限时,比较所述低频信号强度与所述标准强度的大小;
调整单元,用于在所述低频信号强度大于所述标准强度时生成降低低频信号发射功率信息,以及在所述低频信号强度小于所述标准强度时生成提高低频信号发射功率信息,并根据所述降低低频信号发射功率信息或所述提高低频信号发射功率信息调整所述射频读卡器的低频信号发射功率。
4.根据权利要求2所述的射频读卡器的测试系统, 其特征在于,
所述低频接收模块包括:
PCB线圈,用于感应所述射频读卡器发射的低频信号;
低频放大器,用于对所述PCB线圈感应到的所述低频信号进行放大,输出放大后的低频信号给所述A/D转换芯片;
A/D转换芯片,用于将所述放大后的低频信号转换为数字信号;
所述射频通信模块包括:
射频通信芯片,用于生成射频信号,所述射频信号中携带所述低频信号发射功率调整信息;
射频天线,用于发射所述射频信号。
5.根据权利要求1所述的射频读卡器的测试系统, 其特征在于, 所述屏蔽装置为屏蔽箱,所述屏蔽箱的内壁覆盖有吸波材料。
6.根据权利要求1所述的射频读卡器的测试系统, 其特征在于,所述通信终端为计算机。
7.根据权利要求1所述的射频读卡器的测试系统, 其特征在于, 所述测试及调整装置通过串口-USB接口连接线与所述通信终端连接。
8.一种射频读卡器的测试方法,其特征在于,包括:
将待测试的射频读卡器置于屏蔽环境中;
对置于所述屏蔽环境中的所述射频读卡器发射的低频信号强度进行测试;
根据测试结果调整所述射频读卡器的低频信号发射功率。
9.根据权利要求8所述的射频读卡器的测试方法, 其特征在于, 所述根据测试结果调整所述射频读卡器的低频信号发射功率包括:
比较所述低频信号强度与标准强度的差值与第一门限、第二门限的大小,所述第一门限大于所述第二门限;
若所述低频信号强度与标准强度的差值小于所述第一门限并且大于所述第二门限,则比较所述低频信号强度与所述标准强度的大小。
10.根据权利要求9所述的射频读卡器的测试方法, 其特征在于, 所述根据测试结果调整所述射频读卡器的低频信号发射功率还包括:
若所述低频信号强度大于所述标准强度,则降低所述射频读卡器的低频信号发射功率,若所述低频信号强度小于所述标准强度,则提高所述射频读卡器的低频信号发射功率。
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