[发明专利]衍射层析显微成像系统及方法在审
| 申请号： | 202010500979.4 | 申请日： | 2020-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN113758901A | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 吴芹芹;黄伟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45;G01N21/01 |
| 代理公司： | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人： | 孙伟峰 |
| 地址： | 215123 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了衍射层析显微成像系统，包括：承载片，包括透明载片和反射膜，透明载片包括相对的第一表面和第二表面，第一表面用于承载样品，反射膜设置于第二表面上；光路组件，用于产生参考光以及照射样品的入射光，并对参考光、第一样品光和第二样品光进行合束；显微镜组件，用于使入射光通过而照射到样品背向第一表面的前表面和第一表面上，并且使第一样品光和第二样品光通过；成像组件，用于采集合束后的参考光、第一样品光和第二样品光的干涉图像。本发明还公开了采用了上述成像系统的衍射层析显微成像方法。本发明解决了在衍射层析术中，入射光只能扫描到样品朝向物镜的一侧表面，而无法扫描到样品背向物镜的一侧表面的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 衍射 层析 显微 成像 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所，未经中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010500979.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
