[发明专利]一种用于测量光学导引头处理延时时间的方法及装置

权利要求书

1.一种用于测量光学导引头处理延时时间的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、启动光学导引头，并对光学导引头根据预设角度进行调整；

S2、对测试系统上电，上电后根据靶标的初始位置P0、转动角度θ、方位向脱靶量信息αi、俯仰向脱靶量信息βi、靶标的位置Pi、Pi序列的拟合参数φp、αi序列的拟合参数φα和βi序列的拟合参数φβ得到测试系统的初始相位差φ0；其中，所述步骤S2包括：

a、设置上电初始时刻靶标的初始位置P0，并设置初始位置P0为0；

b、记录步进电机转动角度θ，并在θ处控制靶标停止运动，记录多组靶标停止运动的位置Pi（αi，βi）；

根据公式Pi=i*θ，i=0,1,2,…,n 和θ＜π/2，n*θ＞2*π取θ值；

c、获取数据并对Pi序列进行拟合，获取拟合参数φ并记为φp；

d、获取数据并对αi序列进行拟合，获取拟合参数φ并记为φα；

e、获取数据并对βi序列进行拟合，获取拟合参数φ并记为φβ；

f、使用待拟合的序列数据代替公式y=Asin（ωi+φ）+b中的y；

根据公式φ0=φα-φp或公式φ0=φβ-φp获取测试系统初始相位差φ0；

S3、通过测试控制器控制靶标停止运动，保持测试系统处于上电状态，根据匀速圆周运动状态下靶标转动的角速度ω、测试控制器第i次输出信息时的时间戳ti、在ti时刻解析得到的光学导引头输出的方位向αti、在ti时刻解析得到的光学导引头输出的俯仰向的脱靶量信息βti、步骤S2中的靶标的初始位置P0、当前靶标在ti时刻的实时位置Pti、参数φ的拟合结果φtp和αti序列的拟合结果φαt、βti序列的拟合结果φβt得到处理延时的时间tdelay；其中，所述步骤S3包括：对Pti序列进行拟合，得到公式y=Asin（ωi+φ）+b中的参数φ的拟合结果φp；对αti序列进行拟合，得到公式y=Asin（ωi+φ）+b中的参数φ的拟合结果φαt；对βti序列进行拟合，得到公式y=Asin（ωi+φ）+b中的参数φ的拟合结果φβt；所述匀速圆周运动状态下靶标转动的角速度ω满足公式2π/ω＞tdelay；根据公式tdelay=（φαt-φp-φ0）/ω或tdelay=（φβt-φp-φ0）/ω得到处理延时的时间tdelay。

2.根据权利要求1所述的一种用于测量光学导引头处理延时时间的方法，其特征在于，所述步骤S1中的预设角度包括：

调整光学导引头光轴的距离和光学导引头与靶标之间的距离。

3.根据权利要求2所述的一种用于测量光学导引头处理延时时间的方法，其特征在于，所述包括：

通过所述距离使靶标在做圆周运动的过程在光学导引头的视场中完整成像。

4.根据权利要求1所述的一种用于测量光学导引头处理延时时间的方法，其特征在于，所述步骤S3包括：

保持测试系统处于上电状态后，测试系统中光学导引头和靶标的相对位置固定不变，光学导引头继续持续输出脱靶量信息。

5.一种用于测量光学导引头处理延时时间的装置，其特征在于，所述装置包括靶标、光学导引头、测试控制器、电机驱动、步进电机和PC端分析装置，其中：

靶标，用于光学导引头进行目标锁定和处理延时测量，并随着步进电机转轴的转动而转动；

光学导引头，用于进行目标锁定和输出脱靶量数据；

测试控制器，用于向电机驱动发出同步控制信号并根据同步控制信号控制步进电机转动，用于接收来自光学导引头的脱靶量输出数据，根据脱靶量输出数据解析得到当前目标的脱靶量信息，并输出至PC端；

电机驱动，用于接收测试控制器的同步控制信号并驱动步进电机；

步进电机，用于接受来自电机驱动的驱动信号并带动靶标进行圆周运动；

PC端分析装置，用于接收来自光学导引头的脱靶量输出数据，并进行拟合。

6.一种机器可读存储介质，该机器可读存储介质上存储有指令，该指令用于使得机器执行上述权利要求1-4任一项 的方法。