[发明专利]电流探针

说明书

本发明公开了一种电流探针，包含基体、探针头以及多个接触件。探针头装设于基体。探针头具有表面和多个插孔，且插孔皆位于表面。每一接触件包含相连的接触部和插设部。插设部插设于插孔内，且接触部与插设部之间具有钝角。

技术领域

本发明关于一种电流探针，特别是一种用于测量电阻值或电压值等数值的电流探针。

背景技术

目前业界有用于测量电阻值或电压值等数值的探针，特别是用于大电流(例如从数十安培到数百安培)的探针。在贩卖产品前，业者会利用探针进行电性测试来确认产品的良率和可靠度。为了减少发热及确保接触面积等需要，在测试时，探针会直接接触产品表面而能精确测量电阻或电压。

一般而言，置放在大气中的产品会于表面形成氧化膜，或者部分特定产品在制程中会进行表面处理而涂布有高电阻涂层。当探针在进行电性测试时接触到氧化膜或高电阻涂层，会因为接触电阻过大而无法确保量测结果的正确性。

发明内容

鉴于以上的问题，本发明公开一种电流探针，有助于解决在电性测试时因为氧化膜或高电阻涂层而导致接触电阻过大的问题。

本发明所公开的电流探针包含一基体、一探针头以及多个接触件。探针头装设于基体。探针头具有一表面和多个插孔，且这些插孔皆位于表面。这些接触件分别包含相连的一接触部和一插设部，该些插设部分别插设于该些插孔内。该接触部与该插设部之间具有一钝角。

本发明另公开的电流探针适于匹配一子探针件。电流探针包含一基体、一探针头以及多个接触件。基体包含一组装件和穿设组装件的一子探针件。探针头装设于组装件。探针头具有一表面、一穿孔和多个插孔。穿孔和插孔皆位于表面，且该子探针件穿设穿孔。接触件包含相连的一接触部和一插设部。插设部插设于插孔内。接触部自表面沿远离探针头的方向延伸，且接触部的延伸轴与穿孔的轴心之间具有一锐角。

根据本发明所公开的电流探针，接触件的插设部与接触部之间具有钝角，且接触部的延伸轴与穿孔的轴心之间具有锐角。当电流探针抵靠于待测物时，接触件的接触部抵靠于位于待测物表面的高电阻膜。当下压电流探针时，接触件挠曲，并且接触部突破并刮除位于待测物表面的高电阻膜而能电性接触待测物的表面，以确保接触件与待测物之间的低电阻接触。

以上的关于本公开内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的专利保护范围更进一步的解释。

附图说明

图1A为根据本发明第一实施例的电流探针的分解示意图。

图1B为图1A的探针头与接触件的分解示意图。

图1C为图1B的探针头的仰视解示意图。

图1D为图1A的探针头与接触件的剖切示意图。

图1E为图1A的电流探针抵靠于待测物表面上的高电阻膜的剖切示意图。

图1F为图1E的电流探针突破高电阻膜的剖切示意图。

图2为根据本发明第二实施例的电流探针的分解示意图。

图3A为根据本发明第三实施例的探针头与接触件的立体示意图。

图3B为图3A的探针头与接触件的剖切示意图。

图4A为根据本发明第四实施例的探针头与接触件的立体示意图。

图4B为图4A的探针头与接触件的剖切示意图。

图5为根据本发明第五实施例的探针头与接触件的立体示意图。

图6为根据本发明第六实施例的探针头与接触件的立体示意图。

其中，附图标记：

1 电流探针