[发明专利]一种测速装置、方法及终端在审

专利信息
申请号: 201410369898.X 申请日: 2014-07-30
公开(公告)号: CN104133076A 公开(公告)日: 2014-11-05
发明(设计)人: 刘东声 申请(专利权)人: 宇龙计算机通信科技(深圳)有限公司
主分类号: G01P3/68 分类号: G01P3/68
代理公司: 代理人:
地址: 518057 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测速 装置 方法 终端
【权利要求书】:

1.一种采用双摄像头进行测速的测速方法,包括步骤:

采用第一摄像头和第二摄像头分别捕捉运动的待测物的图像;

根据待测物上待测点分别在第一摄像头和第二摄像头中所成的图像中的位置,得出所述待测物上待测点的入射至第一摄像头的入射光方位角度和入射至第二摄像头的入射光的方位角度,并得出待测物的所述待测点在其运动轨迹上不同量测点的位置坐标;以及

根据所述待测物上待测点的运动轨迹上不同量测点的位置坐标,获取待测物的待测点相邻两个量测点之间的距离之和,并根据量测时间,得到待测物的运动速度。

2.如权利要求1所述的测距方法,其特征在于,所述第一摄像头包括第一成像透镜和第一光敏器件,所述第二摄像头包括第二成像透镜和第二光敏器件,所述第一摄像头的光轴与第二摄像头的光轴相互平行,所述第一成像透镜的中心点与所述第二成像透镜的中心点位于垂直于第一摄像头光轴的同一平面内。

3.如权利要求2所述的测速方法,其特征在于,定义经过第一成像透镜的中心点和第二成像透镜的中心点的直线为X轴,垂直于第一摄像头的光轴和第二摄像头光轴的平面为XY平面,平行于第一摄像头的光轴和第二摄像头的光轴的方向定义为Z轴方向,第一成像透镜的中心点和第二成像透镜的中心点连线的中点为坐标原点O,待测物上待测点入射至第一摄像头的第一成像透镜中心点的入射光为第一入射光,入射至第二摄像头的第二成像透镜中心点的入射光为第二入射光,所述待测物上待测点的入射至第一摄像头的入射光方位角度和入射至第二摄像头的入射光的方位角度包括:所述第一入射光与X轴所成的角度以及第二入射光与X轴所成的角度,以及第一入射光与XZ平面所成的角度。

4.如权利要求3所述的测距方法,其特征在于,根据第一摄像头的中心点和第二摄像头的中心点之间的距离、第一入射光与X轴所成的角度以及第二入射光与X轴所成的角度,计算原点O与待测物待测点之间的距离,并根据三角函数,计算出待测点与第一摄像头的中心点的距离,并根据第一入射光与XZ平面所成的角度及三角函数,计算出待测点的坐标。

5.如权利要求1所述的测距方法,其特征在于,所述不同的量测点为预定时间间隔的时间点待测物的待测点所在的位置。

6.如权利要求5所述的测距方法,其特征在于,所述时间间隔为单位时间,相邻的两个量测点之间的距离为待测物运动的即时速度。

7.一种采用双摄像头进行测速的测速装置,其包括:

摄像模块,所述摄像模块包括第一摄像头和第二摄像头,所述第一摄像头和第二摄像头均用于捕捉待测速的运动的待测物的图像;

坐标获取模块,用于根据待测物上待测点分别在第一摄像头和第二摄像头中所成的图像中的位置,得出所述待测物上待测点的入射至第一摄像头的入射光方位角度和入射至第二摄像头的入射光的方位角度,得出在运动过程中的不同量测点时待测点的位置坐标;以及

速度计算模块,用于根据所述待测物上待测点的运动轨迹上不同量测点的位置坐标,获取待测物的待测点相邻两个量测点之间的距离之和,并根据量测时间,得到待测物的运动速度。

8.如权利要求7所述的测速装置,其特征在于,定义经过第一成像透镜的中心点和第二成像透镜的中心点的直线为X轴,垂直于第一摄像头的光轴和第二摄像头光轴的平面为XY平面,平行于第一摄像头的光轴和第二摄像头的光轴的方向定义为Z轴方向,第一成像透镜的中心点和第二成像透镜的中心点连线的中点为坐标原点O,待测物上待测点入射至第一摄像头的第一成像透镜中心点的入射光为第一入射光,入射至第二摄像头的第二成像透镜中心点的入射光为第二入射光,所述坐标获取模块包括角度获取单元和坐标计算单元,所述角度获取单元用于根据待测物上待测点在第一摄像头和第二摄像头中所成的图像中的位置,得出所述第一入射光与X轴所成的角度以及第二入射光与X轴所成的角度,以及第一入射光与XZ平面所成的角度,所述坐标计算单元用于根据所述角度获取单元获取的角度信息以及第一摄像头和第二摄像头之间的距离,计算得出待测物的待测点在不同量测点的位置坐标。

9.如权利要求7所述的测距方法,其特征在于,所述不同的量测点为预定时间间隔的时间点待测物的待测点所在的位置。

10.一种终端,其特征在于,所述终端包括如权利要求7至9任一项所述的测速装置。

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