[发明专利]固态照明源的质量保证无效

专利信息
申请号: 201210005337.2 申请日: 2012-01-06
公开(公告)号: CN102625521A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 凯文·亨普森;迪利普·桑加姆 申请(专利权)人: 爱特梅尔公司
主分类号: H05B37/02 分类号: H05B37/02;G01J3/28
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 刘国伟
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 固态 照明 质量保证
【权利要求书】:

1.一种方法,其包括:

应用用于在存在第二光源的情况下实现对第一光源的照明质量保证的控制逻辑;及

基于通过应用所述控制逻辑而产生的数据,组构所述第一光源以展现大致匹配所述第二光源的光谱功率分布SPD的SPD。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述应用包含:

获取从所述第一光源发射的电磁EM辐射的第一SPD;及

获取从所述第二光源发射的EM辐射的第二SPD。

3.根据权利要求2所述的方法,其进一步包括:

将所述第一SPD与所述第二SPD进行比较;及

基于所述比较的结果,产生指示所述第一SPD与所述第二SPD之间的光谱不匹配的度量。

4.根据权利要求3所述的方法,其进一步包括:

针对所述度量的不满足至少一个适合性准则的值,调整所述第一光源的至少一个控制参数以实现所述度量的适合值。

5.根据权利要求4所述的方法,其进一步包括:

将所述至少一个控制参数供应到所述第一光源的控制器。

6.根据权利要求2所述的方法,其中获取从所述第一光源发射的所述EM辐射的所述第一SPD包含:

响应于控制事件的发生而收集所述EM辐射;及

从所述EM辐射产生所述第一SPD。

7.根据权利要求2所述的方法,其中获取从所述第二光源发射的所述EM辐射的所述第二SPD包含:

响应于控制事件而在一时间间隔内中断从所述第一光源发射的所述EM辐射;

收集从所述第二光源发射的所述EM辐射;及

产生在所述时间间隔期间从所述第二光源发射的所述EM辐射的所述第二SPD。

8.根据权利要求2所述的方法,其中获取从所述第二光源发射的所述EM辐射的所述第二SPD包含:

从数据存储装置提取所述第二SPD。

9.一种设备,其包括:

监视组件,其获取指示从第一光源发射的电磁EM辐射的第一数据集合及指示从第二光源发射的EM辐射的第二数据集合,其中所述第一光源包含固态光SSL源群组;及

调整组件,其至少基于所述第一数据集合及所述第二数据集合而发出所述第一光源的简档,其中所述简档包含至少部分地致使所述第一光源发射具有第一光谱功率分布SPD的EM辐射的至少一个参数,所述第一光谱功率分布SPD几乎匹配从所述第二光源发射的所述EM辐射的第二SPD。

10.根据权利要求9所述的设备,其中所述调整组件将所述简档保持于在功能上耦合到所述设备的存储器中,且其中所述简档中的所述至少一个参数包含:

第一参数,其指示所述SSL源群组中的SSL源的致动条件,其中所述致动条件为激励条件或去激励条件;及

第二参数,其指示当所述致动条件为所述激励条件时将从所述SSL源在一光谱通道中发射的EM辐射的强度。

11.根据权利要求9所述的设备,其中至少基于所述第一SPD与所述第二SPD的比较的结果,所述监视组件确定表示所述第一SPD与所述第二SPD之间的光谱不匹配的度量的值。

12.根据权利要求11所述的设备,其中所述调整组件至少基于所述度量的所述值而发出所述第一光源的所述简档。

13.根据权利要求9所述的设备,其中所述监视组件执行以下操作:

至少基于所述第一数据集合而产生所述第一SPD;及

至少基于所述第二数据集合而产生所述第二SPD。

14.根据权利要求9所述的设备,其中所述监视组件从光谱分析仪获取所述第一数据集合及所述第二数据集合,所述光谱分析仪包括集成于一装置中的第一光电检测器及第二光电检测器,其中所述第一光电检测器位于距所述第二光电检测器约1微米到约100微米内。

15.根据权利要求9所述的设备,其中所述监视组件从数据存储装置获取所述第二数据集合。

16.根据权利要求9所述的设备,其进一步包括模式驱动器组件,所述模式驱动器组件致使所述设备在预定周期期间中断从所述第一光源发射EM辐射。

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