[发明专利]继电器衔铁行程检测装置及方法有效
申请号: | 201210002803.1 | 申请日: | 2012-01-06 |
公开(公告)号: | CN102519337A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 张立军;唐峰;华国平 | 申请(专利权)人: | 宁波金海电子有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02;G01R31/327 |
代理公司: | 宁波天一专利代理有限公司 33207 | 代理人: | 杨高 |
地址: | 315202 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 继电器 衔铁 行程 检测 装置 方法 | ||
1.继电器衔铁行程检测装置,其特征在于包括底板、支架、磁路托块、磁铁和百分表,支架垂直竖立在底板上,磁路托块放在底板上,百分表安装在支架上,所述的百分表测量头与磁路托块上表面垂直,所述磁路托块的上表面中间设可夹紧继电器的轭铁和衔铁的水平槽,所述磁路托块的水平槽下设放置可移动磁铁的拱形腔。
2.根据权利要求1所述的继电器衔铁行程检测装置,其特征是所述磁路托块(7)中间设纵向水平槽(15),所述纵向水平槽下为与纵向水平槽(15)相连通的纵向圆弧拱形腔(18)。
3.根据权利要求1所述的继电器衔铁行程检测装置,其特征是所述磁路托块(7)的上表面前侧设二条与所述水平槽(15)相垂直的水平卡槽(19)。
4.根据权利要求1所述的继电器衔铁行程检测装置,其特征是所述底板(8)和磁路托块(7)为表面粗燥度为0.8,上下表面的平行度为1μm,侧面垂直度为1.5μm的立方体。
5.根据权利要求1所述的继电器衔铁行程检测装置的检测方法,其特征包括以下步骤:
a、根据继电器轭铁大小尺寸调节磁路托块中间水平槽的宽度,并把继电器的轭铁和衔铁夹紧在磁路托块水平凹槽中的水平位置;
b、在磁路托块下未放磁铁时,衔铁与铁芯未吸合,用百分表的测量头接触衔铁尾部,百分表指针或显示器数值为初始值,按表上的清零按钮为零值;
c、再将磁铁放入磁路托块的圆弧拱形腔内,使衔铁与铁芯吸合,并再用百分表测量头接触衔铁尾部,百分表指针或显示的数值即为继电器衔铁的行程值。
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