[发明专利]辉度测量系统有效

专利信息
申请号: 201110367806.0 申请日: 2011-11-18
公开(公告)号: CN102506997A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 孙加亮;周玉生;包昀鑫;董满祥 申请(专利权)人: 亿利资源集团有限公司
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;G01J1/04;G01N21/00
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 程殿军
地址: 100031 北京市西城区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 测量 系统
【说明书】:

技术领域

 本发明有关一种辉度测量系统,特别是指一种用于测量辉光材料辉度、且测量精度高的辉度测量系统。

背景技术

辉光高分子材料产业在欧美等西方发达国家正在兴起,其应用领域涉及消防、船舶、建筑、交通、铁路、军事等。目前国外许多大型国际机场、地铁、飞机及世界著名建筑等诸多领域,都采用了储能自辉光高分子材料标志指示产品。西方多数国家已经通过立法规定,建筑中必须使用新型环保高分子辉光产品,欧盟国家也已颁布相应行业标准。

在国内,也广泛进行了辉光材料的研发与应用。目前辉光材料的辉度测量一般采用亮度计进行测量,但这种测量方式将受到人为主观因素、环境因素的影响,造成测量准确性降低,影响对材料发光特性的正确评价。

发明内容

有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种对辉光高分子材料测量精度高的辉度测量系统。

为达到上述目的,本发明提供一种辉度测量系统,其包括有支撑平台与设于支撑平台上的测量主体,该测量主体内设有待测样品,该测量主体一端设有安装于该支撑平台上的用以测量待测样品辉度的辉度计,该测量主体另一端设有安装于支撑平台上的用于对待测样品进行照射的标准光源,该测量主体外部设置温控装置,该辉度计通过RS232接口与计算机连接。

优选地,所述测量主体为伸缩式结构,由2~6个内径不同的套筒依次套合组成。

该伸缩式的测量主体由两个套筒组成,为内筒与外筒,该内筒套合在外筒内,该内筒靠近所述辉度计的一端设有前挡板,该前挡板设有取光孔,该外筒靠近所述标准光源的一端设有后挡板,所述测量主体后部设置滑槽,该后挡板与所述测量主体插入式连接。

所述后挡板设有后盖板滑槽,该后盖板滑槽中插入有测量板,该测量板为透明板,内设置有内径为10~100mm大小不同的圆环,这些圆环依次嵌合并能拆卸,圆环内孔为测量孔,测量孔内安放有待测样品。

所述前挡板与后挡板之间设置有计量测量距离的伸缩尺。

所述支撑平台上设置有能调节所述套筒移动距离的滑板和固定螺栓。

优选地,所述测量主体为滑板式结构,其为中空的矩形体,所述测量主体顶端横向方向开设有两条上下平行的滑槽,所述测量主体内部设有纵向的测量滑板,该测量滑板顶端两侧突出部分嵌合在下部滑槽中,测量滑板能够沿下部滑槽在所述测量主体内前后运行,所述测量主体上方盖有上盖板,该上盖板能在上部的滑槽中运行。

所述测量主体靠近所述辉度计的一端设有前挡板,该前挡板上设有取光孔,所述测量滑板由两层板组成,所述测量滑板中间开有放置待测样品的多个不同直径的圆孔。

所述测量滑板与所述前挡板之间设置有能计量测量距离的伸缩尺。

所述支撑平台宽为100mm~1500mm,长为200mm~5000mm,高为100mm~2000mm,上面布置1~8个支撑梁,所述支撑平台设置有滚轮。

本发明的辉度测量系统具有可移动、距离可调、温度可控、试样换取方便及数据实时采集等优点,并能提高高分子材料的辉度测量准确度。

附图说明

图1为本发明辉度测量系统第一实施例的结构示意图;

图2为本发明辉度测量系统中前挡板平面示意图;

图3为本发明辉度测量系统中后挡板平面示意图;

图4为本发明辉度测量系统第二实施例的结构示意图。

具体实施方式

为便于对本发明的结构及达到的效果有进一步的了解,现结合附图并举较佳实施例详细说明如下。

如图1所示,本发明辉度测量系统包括有支撑平台1与设于支撑平台上的测量主体2,该测量主体2内设有待测样品,测量主体2一端设有安装于支撑平台1上的辉度计3,用以测量待测样品的辉度,测量主体2另一端设有安装于支撑平台1上的标准光源4,用于对待测样品进行照射。测量主体2外部设置温控装置(图中未示出),使待测样品处于相同的温度条件下进行测量,其中辉度计3通过RS232接口与计算机进行连接,进行双向通信,数据传输,该标准光源4亮度在500~1500LUX(勒克斯)。

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