[发明专利]无桥PFC系统的采样装置和方法

说明书

技术领域

本发明涉及功率因数校正(Power Factor Correction，简称PFC)系统，更具体地说，涉及一种无桥PFC系统的采样装置和方法。

背景技术

为了提高功率因数，降低输入电流谐波含量，在通信电源中大多数采用，有源功率因数校正(Active Power Factor Correction)系统进行调节。与传统的有源功率因数校正系统相比，无桥PFC系统在通信电源中应用更为广泛。图1示出了H桥无桥PFC(H-Bridge bridgeless PFC)系统的电路图，其具有两个主要优点。一是电路结构简单，二是效率高。这是因为整个PFC系统中不存在输入整流桥，因此可以减小导通损耗。然而，这也造成了交流输入电流的采样非常困难。

目前尚无可以简单有效地采样无桥PFC系统的交流输入电流的装置。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述采样无桥PFC系统的交流输入电流非常困难的缺陷，提供一种可以简单有效地采样无桥PFC系统的交流输入电流的装置。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种无桥PFC系统的采样装置，包括：

分流器，所述分流器连接在所述无桥PFC系统的第一电源输入端和所述无桥PFC系统的整流模块的第一输入端之间；

隔离运算放大器，所述隔离运算放大器的第一输入端连接所述第一电源输入端，所述隔离运算放大器的第二输入端连接所述整流模块的第一输入端，所述隔离运算放大器的输出端连接所述无桥PFC系统的控制模块，所述控制模块基于所述隔离运算放大器输出的电源输入电流采样信号控制所述无桥PFC系统的晶体管拓扑模块的开关；

其中所述晶体管拓扑模块包括第一晶体管和第二晶体管，其中所述第一晶体管的漏极经第一电感连接所述无桥PFC系统的第二电源输入端，所述第一晶体管的漏极同时连接到所述整流模块的第二输入端，所述第一晶体管的源极连接所述第二晶体管的源极，所述第二晶体管的漏极连接所述整流模块的第一输入端和所述分流器，所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极连接所述控制模块。

在本发明所述的无桥PFC系统的采样装置中，所述晶体管拓扑模块进一步包括第三晶体管和第四晶体管，其中所述第三晶体管的漏极经第二电感连接所述无桥PFC系统的第二电源输入端，所述第三晶体管的漏极同时连接到所述整流模块的第二输入端，所述第三晶体管的源极连接所述第四晶体管的源极，所述第四晶体管的漏极连接所述整流模块的第一输入端，所述第三晶体管的栅极和所述第四晶体管的栅极连接所述控制模块。

在本发明所述的无桥PFC系统的采样装置中，所述整流模块包括第一二极管、第二二极管、第三二极管和第四二极管，其中所述第一二极管的阳极连接所述第一晶体管的漏极和所述第三二极管的阴极，所述第一二极管的阳极为所述整流模块的第二输入端，所述第一二极管的阴极连接所述第二二极管的阴极，所述第一二极管的阴极和所述第二二极管的阴极的连接点为所述整流模块的输出端，所述第二二极管的阳极为所述整流模块的第一输入端且连接所述第四二极管的阴极，所述第四二极管的阳极连接控制地和所述第三二极管的阳极，所述第三二极管的阴极连接所述第一二极管的阳极。

在本发明所述的无桥PFC系统的采样装置中，所述无桥PFC系统的采样装置进一步包括连接到所述整流模块的输出端和控制地之间的输出模块。

在本发明所述的无桥PFC系统的采样装置中，所述输出模块包括第一电容和第一电阻，所述第一电容和所述第一电阻并联连接在所述整流模块的输出端和所述控制地之间。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种无桥PFC系统的采样方法，包括：

S1、使用上述任一无桥PFC系统的采样装置连续采样所述无桥PFC系统的输入电流；

S2、基于采样的输入电流控制所述无桥PFC系统中晶体管的开关以实现所述无桥PFC系统的连续工作模式。

在本发明所述的无桥PFC系统的采样方法中，在所述步骤S2中，采用平均电流法控制所述无桥PFC系统中晶体管的开关以实现所述无桥PFC系统的连续工作模式。

实施本发明的无桥PFC系统的采样装置和方法，能够简单方便地获得无桥PFC系统的电源输入电流采样信号。更进一步的，可以将该电源输入电流采样信号送入无桥PFC系统控制模块用于后续的控制或处理，因而使得无桥PFC系统的控制更为简便。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：