[发明专利]用于相位插值器的INL检测及校准在审

专利信息
申请号: 202310339502.6 申请日: 2023-03-31
公开(公告)号: CN116938200A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: S-H·李;S·钟;全亨俊;V·米利鲁德;W·张;A·唐 申请(专利权)人: 安华高科技股份有限公司
主分类号: H03K5/13 分类号: H03K5/13;H03L7/085;H03M1/10
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 林斯凯
地址: 新加坡*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本公开涉及用于相位插值器的INL检测及校准。一种设备包含耦合到相位检测器电路及可调整延迟电路的控制逻辑。所述控制逻辑经配置以获得相位插值器的输出信号的第一相位相对于参考信号的第二相位的状态,并调整所述参考信号的延迟,直到所述第二相位与所述第一相位匹配为止。所述控制逻辑进一步经配置以当所述第二相位与所述第一相位匹配时测量所述参考信号的总延迟,并基于所述总延迟来确定第一代码下所述相位插值器的积分非线性。所述控制逻辑可进一步至少部分地基于所述积分非线性来校准相位插值器的第一代码。
搜索关键词: 用于 相位 插值器 inl 检测 校准
【主权项】:
暂无信息
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