[发明专利]一种晶体管老化测试箱在审
| 申请号： | 202210360619.8 | 申请日： | 2022-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN116930703A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 曹佶;赵宝忠;林向前 | 申请（专利权）人： | 浙江杭可仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 311200 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种晶体管老化测试箱，包括机架和设置在所述机架上的控制组件、用于调节测试信号的插接面板、电源组件和设置在所述机架外部的测试组件，所述插接面板、所述测试组件和所述电源组件均与所述控制组件电性连接，所述测试组件包括多个支撑台和设置在所述支撑台上的水冷板，所述支撑台包括操作箱和设置在所述操作箱上的第一接口组和调节开关，所述第一接口组与所述控制组件电性连接，所述水冷板设置在所述操作箱的上端，所述水冷板上设置有多个老化板和用于插接晶体管的安装孔，所述老化板与所述第一接口组电性连接，待测晶体管通过所述安装孔分别与所述老化板和所述插接面板信号连接。其很容易给晶体管散热，且节约电能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体管 老化 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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