[发明专利]测量单晶晶向的方法、系统及介质在审
| 申请号： | 202210343742.9 | 申请日： | 2022-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN116930226A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 施奇伟;刘晫苒;但承益;钟圣怡;陈哲;王浩伟 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01N23/203 | 分类号： | G01N23/203;G01N23/2055;G01N23/207 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 王丹东 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种测量单晶晶向的方法、系统及介质，涉及晶体学凝聚态物理和粒子衍射技术领域，包括：步骤S1：扫描单晶样品，录得一部分衍射图案，依据布拉格衍射条件计算标准衍射图案，配准两类衍射图案以得到各个实验衍射图案对应的晶向角、图案中心坐标值；步骤S2：根据几何关系对图案中心坐标值做拟合计算，得到样品表面相对于衍射探测器的位置；步骤S3：应用拟合所得的样品表面的位置来计算单晶样品的实际晶向角。本发明能够纠正实验操作误差、精确测量单晶晶向。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 单晶晶 方法 系统 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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