[发明专利]X射线检查装置以及X射线检查方法在审
| 申请号： | 202210181648.8 | 申请日： | 2022-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN115078417A | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | 七吕真;惠木守 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 方冬梅;邓毅 |
| 地址： | 日本国京*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供X射线检查装置以及X射线检查方法，X射线检查装置(1、11)具有X射线源(10)、X射线照相机(20)和保持检查对象的保持部(40)，X射线源、X射线照相机、保持部中的任意方作为旋转部进行旋转运动，而取得检查对象的三维图像并检查，旋转部在多个场所依次进行旋转运动，并且从一个旋转运动的旋转结束点向下一个旋转运动的旋转开始点沿着作为将各旋转圆在旋转结束点和旋转开始点处平滑地连结的轨迹的特定移动轨迹移动，下一个旋转运动的旋转开始点被计算为以配置于下一个旋转运动的旋转圆上的方式设定的多个候选点中的、旋转部能够沿着特定移动轨迹以最短的移动时间从一个旋转运动的旋转圆移动至下一个旋转运动的旋转圆的点。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检查 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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