[发明专利]半导体封装结构及其制造方法在审
申请号: | 202110851757.1 | 申请日: | 2021-07-27 |
公开(公告)号: | CN114068508A | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | 许哲玮 | 申请(专利权)人: | 恒劲科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L25/16 | 分类号: | H01L25/16;H01L23/485;H01L21/60 |
代理公司: | 北京汇智英财专利代理事务所(普通合伙) 11301 | 代理人: | 张玮玮 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体封装结构,其包括一第一介电层、一整合芯片、一第二功率芯片、一第一图案化导电层、一第二图案化导电层、一第一导电黏着部、一第二导电黏着部、多个第一导电连接组件、多个第二导电连接组件,并于下方包括一增层线路结构,其中整合芯片包括一控制芯片及一第一功率芯片。本发明采用将控制芯片及第一功率芯片整合为单一芯片的设置方式,以进一步缩小半导体封装结构的体积。此外,本发明还提供一种半导体封装结构的制造方法。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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