[发明专利]一种基于多尺度特征融合SSD的缺陷检测方法及设备有效
| 申请号： | 202110653005.4 | 申请日： | 2021-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN113269775B | 公开（公告）日： | 2022-10-28 |
| 发明（设计）人： | 刘群坡;方源;魏萍;王满利;张建军;吴中华 | 申请（专利权）人： | 河南理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/80;G06V10/82;G06V10/46;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 焦作市科彤知识产权代理事务所(普通合伙) 41133 | 代理人： | 杨晓彤 |
| 地址： | 454000 河南*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本申请的目的是提供一种多尺度特征融合SSD的缺陷检测方法及设备，本申请通过基于待检测缺陷特征确定SSD特征提取模型；获取目标图像；将所述目标图像放入所述SSD特征提取模型中进行缺陷特征提取，得到缺陷特征图集；通过非极大值抑制方法对所述缺陷特征图集进行目标定位和检测，得到缺陷检测结果，即在根据不同的待检测缺陷特征对SSD特征提取模型进行建模，增强SSD算法对特征层重要特征的提取并弱化无关特征，从而提高SSD网络的特征提取能力，确保微精密玻璃封装电连接器缺陷检测精确度和效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 尺度 特征 融合 ssd 缺陷 检测 方法 设备 | ||
【主权项】：
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