[发明专利]用于集成电路的方法和系统在审
申请号: | 202110632478.6 | 申请日: | 2021-06-07 |
公开(公告)号: | CN113238142A | 公开(公告)日: | 2021-08-10 |
发明(设计)人: | 余超 | 申请(专利权)人: | 马鞍山骏展科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01N3/08;G01N3/06 |
代理公司: | 合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160 | 代理人: | 刘勇 |
地址: | 243000 安徽省马鞍山市郑*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明公开了用于集成电路的方法和系统,涉及集成电路测试技术领域,解决了无法准确检测集成电路的电气参数,导致集成电路的电气参数异常的质量隐患无法识别的技术问题;包括如下步骤:通过检测电路检测与所述检测电路相连的所述集成电路的电气参数;对集成电路的电气参数进行分析,判断集成电路的电气参数是否正常,能够及时识别集成电路电气参数异常的质量隐患,提高集成电路工作的安全性;对集成电路板的抗压性能系数进行动态检测与分析,得到预警区域和抗压性能系数,判定集成电路板的抗压性能是否满足使用标准;避免集成电路板断裂情况的发生,及时对集成电路板进行维修,进一步提高集成电路工作的安全性。 | ||
搜索关键词: | 用于 集成电路 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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