[发明专利]一种基于整帧翻转的SRAM型FPGA故障注入加速试验方法有效
| 申请号： | 202110596690.1 | 申请日： | 2021-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN113253097B | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 孙鹏跃;欧钢;黄仰博;楼生强;毛二坤;周欢;林红磊 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G11C29/44 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 伍传松 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于整帧翻转的SRAM型FPGA故障注入加速试验方法，包括：对被测单元的测试帧进行整帧翻转，注入故障；对测试帧进行刷新修复，使用控制单元比对被测单元和参考单元的数据流是否一致；当被测单元和参考单元的数据流有差异，说明测试帧存在不可恢复的异常比特位；采用二分法重新对当前帧进行故障注入，重复多次直到当前帧的比特位数量小于阈值，对第二区间进行逐位翻转，定位不可恢复的异常比特位的位置。本发明能够加速故障注入试验过程，提高效率，能够快速找到不可恢复的异常比特位的具体位置，对三模加固设计具有指导意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 翻转 sram fpga 故障 注入 加速 试验 方法 | ||
【主权项】：
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