[发明专利]一种单晶硅太阳能电池片可靠性筛选方式有效
申请号: | 202110587043.4 | 申请日: | 2021-05-27 |
公开(公告)号: | CN113314433B | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 杜发秀;肖世礼;肖东明 | 申请(专利权)人: | 深圳市泰晶太阳能科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/67 |
代理公司: | 东莞市卓易专利代理事务所(普通合伙) 44777 | 代理人: | 陈海祥 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种单晶硅太阳能电池片可靠性筛选方式,包括待检测电池编号模块、待检测电池定位模块、表面缺陷检测模块和电池分类模块,其中,所述待检测电池编号模块用于对电池片进行编号,在编号的过程中待检测电池编号模块将待测试的单晶硅太阳能电池按递增顺序从号单晶硅太阳能电池开始编号直至N号单晶硅太阳能电池,N为待测试单晶硅太阳能电池的数量,N取值为几十至两万;所述待检测电池定位模块用于将标注好编号太阳能电池在检测的过程中。本发明通过对单晶硅太阳能电池的表面缺陷进行检测、电压遭横功率检测和电流噪声功率检测从而让单晶硅太阳能电池的筛选方法更加可靠和稳定。 | ||
搜索关键词: | 一种 单晶硅 太阳能电池 可靠性 筛选 方式 | ||
【主权项】:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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