[发明专利]槽栅超结VDMOS器件、芯片及终端设备有效

专利信息
申请号: 202110581224.6 申请日: 2021-05-26
公开(公告)号: CN113327984B 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 任敏;李长泽;李泽宏;李伟聪;林泳浩 申请(专利权)人: 深圳市威兆半导体有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/423
代理公司: 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651 代理人: 辛鸿飞
地址: 518000 广东省深圳市南山区桃源街道福*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开一种槽栅超结VDMOS器件、芯片及终端设备。该槽栅超结VDMOS器件包括元胞结构和开关管;元胞结构包括超结结构,超结结构的顶端设有沟槽栅极结构,沟槽栅极结构包括从上至下依次层叠设置的N型多晶硅区和P型多晶硅区,N型多晶硅区的上表面设有金属层,P型多晶硅区通过多晶走线与栅极连接,沟槽栅极结构的两侧分别设有P型基区,每侧的P型基区的上表面均设有相接触的N+源区和P+体区,且N+源区紧邻沟槽栅极结构,每侧的N+源区的部分上表面和P+体区的上表面设有源极金属;开关管跨接在金属层与源极金属之间,当开关管导通时,P型基区的表面形成供电流通过的导电沟道。本申请可以提高反向恢复特性。
搜索关键词: 槽栅超结 vdmos 器件 芯片 终端设备
【主权项】:
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