[发明专利]不等臂干涉仪臂长差测量系统在审
| 申请号： | 202110574771.1 | 申请日： | 2021-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN113324485A | 公开（公告）日： | 2021-08-31 |
| 发明（设计）人： | 陈柳平;王林松;王其兵;范永胜;万相奎 | 申请（专利权）人： | 国开启科量子技术（北京）有限公司;广东启科量子信息技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B9/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100193 北京市海淀区西*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开的不等臂干涉仪臂长差测量系统，涉及光通信设备测试领域，包括光源模块、标准不等臂干涉仪、待测不等臂干涉仪、测量模块和控制模块，其中，光源模块被配置为制备周期脉冲光，标准不等臂干涉仪被配置为将光源模块发出的第一光束时分为第一周期脉冲光和第二周期脉冲光并将第一周期脉冲光和第二周期脉冲光输入待测不等臂干涉仪，光纤延迟线被配置为与标准不等臂干涉仪的一个臂光连接，待测不等臂干涉仪被配置为将第一周期脉冲光与第二周期脉冲光产生干涉，得到第二光束，测量模块被配置实时计算第二光束中相干脉冲光的光强，控制模块还被配置为根据相干脉冲光的光强，得到待测不等臂干涉仪的臂长差，降低了成本，提高了精度。 | ||
| 搜索关键词： | 不等 干涉仪 臂长差 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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