[发明专利]IPM可靠性测试方法、装置、系统及计算机存储介质在审
| 申请号： | 202110337093.7 | 申请日： | 2021-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN112904138A | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 左安超;谢荣才;王敏 | 申请（专利权）人： | 广东汇芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/26;G01R31/52 |
| 代理公司： | 深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426 | 代理人： | 隆毅 |
| 地址： | 528000 广东省佛山市南海区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种IPM可靠性测试方法，包括：向待测IPM施加第一预设偏置电压，获取IPM的第一漏电流并据此判断其是否失效；若有效，则将测试温度设置为第一预设温度并施加第二预设偏置电压；持续第二预设时长后，恢复至常温静态测试环境；向IPM施加第一预设偏置电压，获取IPM的第二漏电流；基于第二漏电流与IPM的极限漏电流，判断IPM是否失效；若有效，则将测试温度设置为第二预设温度测试湿度设置为预设湿度并施加第三预设偏置电压；持续第三预设时长后，恢复至常温静态测试环境；恢复至常温静态测试环境后，向IPM施加第一预设偏置电压，获取IPM的第三漏电流；基于第三漏电流与IPM的极限漏电流，判断IPM是否失效。 | ||
| 搜索关键词： | ipm 可靠性 测试 方法 装置 系统 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
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