[发明专利]一种利用紫外荧光标记同步测量变形和温度的装置及方法有效
| 申请号： | 202110256775.5 | 申请日： | 2021-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN112884751B | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 冯雪;王锦阳;张金松;岳孟坤;唐云龙 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/90;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及一种利用紫外荧光标记同步测量变形和温度的装置及方法，所述方法包括：控制紫外荧光剂喷洒装置在试件表面喷洒紫外荧光剂；控制紫外补偿光源照射所述试件表面，使所述紫外荧光剂发光，获取所述试件表面在加热状态下的第一图像；控制蓝色补偿光源照射所述试件表面，获取所述试件表面在加热状态下的第二图像；将所述第一图像输入训练后的神经网络，通过所述神经网络得到所述试件表面的变形场；根据所述第二图像，获取所述试件表面温度场。本公开实施例可提高在高温中试件表面变形场测量的精度并且实现同步测量温度场。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 紫外 荧光 标记 同步 测量 变形 温度 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学，未经清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110256775.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：陶瓷膜微滤卫生反冲装置
- 下一篇：一种同步联动自动打孔机及其使用方法
