[发明专利]一种偏光片外观缺陷检测系统

摘要

本发明公开了一种偏光片外观缺陷检测系统及检测方法，其偏光片外观缺陷检测系统包括PLC控制器，与PLC控制器电气连接的投料工站、上料工站、输送工站、第一工位检测工站、第二工位检测工站、下料工站，还包括服务器，服务器与PLC控制器、第一工位检测工站和第二工位检测工站电气连接。本发明提供的一种偏光片外观缺陷检测系统及检测方法，主要是从第一工位检测工站和第二工位检测工站对偏光片进行全面检测，采用双视场成像的原理实现大视场的扫描和定位，进而实现微小缺陷的高分辨成像，通过低分辨线扫相机和高分辨面阵相机的结合，用低分辨线扫进行大范围扫描和定位，用高分辨面阵确定孔周围缺陷，可实现小孔的快速定位和缺陷的高效识别。