[发明专利]一种用于放射性样品直接中子照相无损检测的检测装置及检测方法有效
| 申请号： | 202110178233.0 | 申请日： | 2021-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN112986288B | 公开（公告）日： | 2022-07-01 |
| 发明（设计）人： | 陈东风;魏国海;孙凯;刘蕴韬;贺林峰;武梅梅;李正耀;焦学胜;郝丽杰;李玉庆;韩松柏;王洪立;王雨 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01N23/05 | 分类号： | G01N23/05 |
| 代理公司： | 北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司 11493 | 代理人： | 王鹏鑫 |
| 地址： | 102413 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于放射性样品直接中子照相无损检测的检测装置，包括：中子源、样品台、中子光路传输系统和中子探测系统。所述中子源、所述样品台、所述中子光路传输系统和所述中子探测系统沿着第一方向依次排布设置。通过在样品台和中子探测系统之间设置中子光路传输系统，并可根据检测样品的性质等来设置中子光路传输系统的长度，从而拉长了检测样品和中子探测系统之间的距离，可以极大地降低检测样品的放射性对中子成像探测系统的影响，几乎不会影响中子探测系统的检测成像。如此，本发明的用于放射性样品直接中子照相无损检测的检测装置，可以利用直接中子成像方法针对放射性样品进行中子照相无损检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 放射性 样品 直接 中子 照相 无损 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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