[发明专利]一种绝缘子污秽度的测试方法有效
| 申请号： | 202110143617.9 | 申请日： | 2021-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN112945942B | 公开（公告）日： | 2023-10-27 |
| 发明（设计）人： | 芦山;刘星廷;郭瑞宙;王欣伟;安瑞峰;王希林;何永琪;覃歆然;贾志东 | 申请（专利权）人： | 国网山西省电力公司电力科学研究院;清华大学深圳国际研究生院 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 刘莉 |
| 地址： | 030000 *** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种绝缘子污秽度的测试方法，包括以下步骤：S1、利用LIBS，用脉冲激光光束照射若干绝缘子样品表面的污秽，获得各绝缘子样品的等离子体特征光谱数据；S2、根据Na元素的特征谱线强度，建立绝缘子样品的特征谱线强度与等值盐密值的定标关系；S3、根据Al元素的特征谱线强度，建立绝缘子样品的特征谱线强度与等值灰密值的定标关系；S4、使用LIBS，用相同参数的脉冲激光光束照射待测绝缘子表面的污秽，获得待测绝缘子的等离子体特征光谱数据；S5、分别利用定标关系，确定待测绝缘子的等值盐密值和等值灰密值；S6、确定待测绝缘子表面的污秽度。本发明可以实时、在线、快速地检测绝缘子表面的污秽度，测量结果符合现有电力行业标准规定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 绝缘子 污秽 测试 方法 | ||
【主权项】：
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