[发明专利]爆闪灯性能测试方法及电子设备有效
| 申请号： | 202110093313.6 | 申请日： | 2021-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN112887626B | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 杨云飞;林伟 | 申请（专利权）人： | 北京英泰智科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/235 | 分类号： | H04N5/235;H04N17/00 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 100080 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明一个或多个实施例公开一种爆闪灯性能测试方法及电子设备，其中，爆闪灯测试方法包括：控制处于测试环境中的摄像机对待拍摄目标进行拍摄，得到图像，其中，在所述摄像机进行拍摄的过程中控制所述摄像机在开始曝光时向处于所述测试环境中的爆闪灯发送触发信号，以触发所述爆闪灯进行补光；确定所述图像的所有像素行中被感光的像素行的个数；根据所述被感光的像素行的个数确定所述爆闪灯的持续输出时间，该测试方法简化了爆闪灯的测试过程，提高了爆闪灯性能测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 爆闪灯 性能 测试 方法 电子设备 | ||
【主权项】：
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