[发明专利]SDK检测方法、装置、电子设备、系统和存储介质有效
| 申请号： | 202110037124.7 | 申请日： | 2021-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN112732581B | 公开（公告）日： | 2023-03-10 |
| 发明（设计）人： | 任旭龙 | 申请（专利权）人： | 京东科技控股股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F8/53;G06F8/61 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种SDK检测方法、装置、电子设备、系统和存储介质，该SDK检测方法包括：反编译目标应用程序的安装包得到目标文件；根据目标文件的指定信息及预设SDK集合确定目标应用程序中集成的目标SDK；根据目标SDK为目标应用程序生成SDK检测集。本发明实施例中，可以根据反编译得到的目标文件的指定信息及预设SDK集合自动检测目标应用程序中集成的SDK，因而不再需要人工检测SDK，提高了SDK的检测效率，且利用预设SDK集合可以实现SDK的全面检测，避免漏检。 | ||
| 搜索关键词： | sdk 检测 方法 装置 电子设备 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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