[发明专利]一种激光芯片耐回返光能力的光路测试系统及方法有效
| 申请号： | 202110030943.9 | 申请日： | 2021-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN112362313B | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 周少丰;刘鹏;王书平;欧阳春宝 | 申请（专利权）人： | 深圳市星汉激光科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳市沈合专利代理事务所(特殊普通合伙) 44373 | 代理人： | 沈祖锋 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区福海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种激光芯片耐回返光能力的光路测试系统及方法，涉及半导体激光器技术领域；其系统包括：回返光测试单元，用于向所述光路监测单元发射激光，以模拟光路监测单元在正常工作时接收到的回返光；光路监测单元，设置在回返光测试单元的光路上，用于接收所述回返光，同时正常发射激光；功率探测器，通过光纤与所述光路监测单元连接，并接收光路监测单元发射的激光，以监测光路监测单元在接收所述回返光测试单元发射的回返光时的芯片输出功率稳定性。本发明提出的技术方案通过向被测试的激光芯片发射激光，模拟被测试激光芯片在正常工作时接收到的回返光，准确评估激光芯片的耐回返光阈值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 芯片 回返 能力 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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