[发明专利]一种改标的密封元器件可靠性评价方法有效
| 申请号： | 202110007262.0 | 申请日： | 2021-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN112857675B | 公开（公告）日： | 2022-09-23 |
| 发明（设计）人： | 邝栗山;刘莉;曹庆;吴中祥;袁满 | 申请（专利权）人： | 航天科工空间工程发展有限公司 |
| 主分类号： | G01M3/02 | 分类号： | G01M3/02;G01N21/84;G01N3/08;G01N3/24;G01M13/00 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 李远思 |
| 地址： | 431400 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请的一个实施例公开了一种改标的密封元器件可靠性评价方法，该方法包括：S10、对待测元器件进行质量一致性检验，剔除不合格元器件，其中，所述待测元器件数量为N，所述不合格元器件的数量为M；S20、判断质量一致性检验的PDA值是否小于30％，若是，执行S30；若否，检验合格的器件不可用，不再进行可靠性评价试验，其中，所述PDA＝M/N；S30、检验合格的元器件进行可靠性评价试验，按照预定标准评价可靠性。本申请所述技术方案可以对改标过程是否对密封器件的封装、引脚、键合和芯片造成损伤进行评价，获得该类器件的质量一致性和可靠性结论，为用户决策提供支撑。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 标的 密封 元器件 可靠性 评价 方法 | ||
【主权项】：
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