[实用新型]一种IC集成电路芯片的测试仪有效
| 申请号： | 202020797281.9 | 申请日： | 2020-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN212255390U | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 杨凯翔 | 申请（专利权）人： | 广东万维半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区布吉*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种IC集成电路芯片的测试仪，包括测试仪外壳，所述测试仪外壳的下表面靠近四周边角位置均固定安装有橡胶支撑垫，且测试仪外壳的顶部嵌设有显示屏，所述测试仪外壳的上表面靠近一侧位置设有芯片插槽，且测试仪外壳的上表面靠近另一侧位置设有多个功能按键，所述测试仪外壳的上表面靠近中间位置设有指示灯，所述芯片插槽的一侧外表面连接有固定杆，所述测试仪外壳的顶部连接有清洁装置，且测试仪外壳的后表面靠近一侧位置开设有电源接口，所述测试仪外壳的后表面靠近另一侧位置设有开关按钮。本实用新型所述的一种IC集成电路芯片的测试仪，能够保证测试仪显示屏表面的清洁，且能够方便将测试仪提起。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 集成电路 芯片 测试仪 | ||
【主权项】：
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