[发明专利]一种面向软错误的寄存器可靠性建模与评估方法有效
| 申请号： | 202011631120.3 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112817784B | 公开（公告）日： | 2023-01-13 |
| 发明（设计）人： | 庄毅;程义;顾晶晶;曹子宁 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00;G06F11/26 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 朱炳斐 |
| 地址： | 210016 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种面向软错误的寄存器可靠性建模与评估方法，包括：计算单个寄存器的脆弱性因子RVF和损毁率RCR；基于分级建模的方式，使用Z语言建立从不同功能的寄存器到系统所有寄存器的可靠性模型ZRRM；将ZRRM模型转化为CTMC的形式，为不同功能寄存器建立CTMC模型；根据寄存器的CTMC模型计算不同功能寄存器的瞬时脆弱度，对不同功能寄存器的可靠性进行评估；基于单个寄存器的可靠性评估结果和状态之间的关系，利用CTMC对系统整体进行可靠性评估。本发明建模过程分级处理，简洁清晰，不仅能够对不同功能的寄存器进行可靠性评估，并且可以使用模型检测的方法对ZRRM模型的可靠性进行严格的分析与评估。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 错误 寄存器 可靠性 建模 评估 方法 | ||
【主权项】：
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