[发明专利]大尺度特性参数测量方法、装置、节点和存储介质在审
| 申请号： | 202011628336.4 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112865941A | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 叶新泉;张淑娟;陈艺戬;郁光辉;鲁照华 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L5/00 | 分类号： | H04L5/00;H04W72/04 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 潘登 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开一种大尺度特性参数测量方法、装置、节点和存储介质，该方法包括：获取指示信息，其中，指示信息包括QCL关联信息和第一时间窗信息，根据指示信息测量第一参考信号的大尺度特性参数。上述过程可以根据获取的指示信息，实现在指示信息包含的第一时间窗信息所限定的时间范围内，根据QCL关联信息测量第一参考信号的大尺度特性参数。 | ||
| 搜索关键词： | 尺度 特性 参数 测量方法 装置 节点 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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