[发明专利]基于回波损耗的特高频传感器特性校验方法及终端设备有效
| 申请号： | 202011617120.8 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112731250B | 公开（公告）日： | 2022-07-22 |
| 发明（设计）人： | 李天辉;夏彦卫;顾朝敏;董驰;张达;贾伯岩;刘宏亮;路士杰 | 申请（专利权）人： | 国网河北能源技术服务有限公司;国网河北省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 付晓娣 |
| 地址： | 050021 河*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明适用于传感器检测技术领域，提供了一种基于回波损耗的特高频传感器特性校验方法及终端设备，其中，基于回波损耗的特高频传感器特性校验方法包括：在预设频段内按照预设数量的扫描点，测量气体绝缘开关设备的目标特高频传感器的S11或S22参数，得到目标特高频传感器的目标回波损耗曲线；获取目标回波损耗曲线和参考回波损耗曲线的相关系数；其中，参考回波损耗曲线根据预先测量出的至少一个特高频传感器的回波损耗曲线得到，至少一个特高频传感器与目标特高频传感器的类型相同；在相关系数小于预设阈值的情况下，将目标特高频传感器确定为在预设频段内特性异常的特高频传感器。本发明能够解决特性校验不准确的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 回波 损耗 高频 传感器 特性 校验 方法 终端设备 | ||
【主权项】：
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