[发明专利]一种高速光电探测器结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 202011590102.5 申请日: 2020-12-29
公开(公告)号: CN112687751B 公开(公告)日: 2022-06-21
发明(设计)人: 陈阳华;张永;单智发;方天足 申请(专利权)人: 全磊光电股份有限公司
主分类号: H01L31/0216 分类号: H01L31/0216;H01L31/101;H01L31/18;C23C14/08;C23C14/14;C23C14/24;C23C16/30;C23C16/455;C23C28/04
代理公司: 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙) 32251 代理人: 刘计成
地址: 361000 福建省厦门市火炬*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种高速光电探测器结构,其外延片包括InP衬底,及在InP衬底上由下至上依次生长的下欧姆接触层、下窗口层、吸收层、上窗口层、上欧姆接触层,所述外延片设置为台面结构,所述台面结构的一个侧面为光入射面,所述入射面上设有减反射膜,远离所述减反射膜的另一个侧面为光反射面,所述光反射面上设有高反射膜。本发明光探测器的光入射方向和漂移电场方向相垂直,吸收层0.1~3um,载流子的漂移快,带宽高;本发明在提高内量子效率的同时,进一步缩小器件尺寸,提高器件带宽,平衡整个吸收层的光电流均匀分布,避免因吸收层光吸收不均,局域光电流饱和造成信号非线性失真问题。
搜索关键词: 一种 高速 光电 探测器 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
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