[发明专利]一种基于二值图的特征提取的方法及装置在审
| 申请号： | 202011584911.5 | 申请日： | 2020-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN112634311A | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 周洪涛;窦润江;刘力源;刘剑;吴南健 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G06T7/187 | 分类号： | G06T7/187;G06T7/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 鄢功军 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于二值图的特征提取的方法及装置，包括：对二值图按行进行连续扫描，通过标签赋值算法对输入的二值图进行标签标记，并输出标记图；对标记图的连通域按行进行检测，当检测到连通域结束时，输出标记图中对应像素位置的标签值并进行保存；对与二值图对应的原始图像按行进行连续扫描，对原始图像和标记图的特征量进行逐像素统计，并将与较大标签值对应的特征量合并到与较小标签值对应的特征量中以得到合并特征量，输出并保存合并特征量。本发明能够减少标记时标签的数目，减少了硬件设备资源的占用，同时，能够输出连通域结束时的像素对应的标签值和合并特征量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 二值图 特征 提取 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所，未经中国科学院半导体研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011584911.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
