[发明专利]测试结构件、ToF装置以及镜头脏污检测方法有效
| 申请号： | 202011553276.4 | 申请日： | 2020-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN112702488B | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 胡洪伟 | 申请（专利权）人： | 上海炬佑智能科技有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/225 | 分类号： | H04N5/225;H04N17/00 |
| 代理公司： | 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651 | 代理人： | 王敏生;董琳 |
| 地址： | 201203 上海市中国（上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请公开一种测试结构件、ToF装置以及ToF装置的镜头脏污检测方法，能够提升ToF模组摄制的图像的准确性。所述测试结构件用于设置到ToF模组的出光方向上，以检测所述ToF模组的透明盖板表面的镜头脏污情况，所述测试结构件包括两个子件，所述子件具有反射面，且所述两个子件的反射面的反射率差值大于等于预设阈值。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 结构件 tof 装置 以及 镜头 脏污 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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