[发明专利]智能存储器装置测试架在审
| 申请号： | 202011510696.4 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN112992263A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | G·D·哈默;M·R·斯皮卡;D·谢泼德;P·卡拉赫尔;J·达罗查沙维斯 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种智能存储器装置测试架。一种测试架包含两个或更多个存储器装置测试板，其中每个存储器装置测试板包含两个或更多个存储器装置测试资源。所述两个或更多个存储器装置测试板中的每一个包含被分配给对应存储器装置测试板的所述存储器装置测试资源的单独处理装置。测试板的处理装置检测第一存储器子系统已与所述对应存储器装置测试板的第一存储器装置测试资源接合。所述处理装置识别将针对所述第一存储器子系统的第一存储器装置执行的第一测试，其中所述第一测试包含要在执行所述第一测试时执行的一或多个第一测试指令。所述处理装置使所述一或多个第一测试指令传输到所述第一存储器子系统，其中所述第一测试通过在所述第一存储器子系统处执行所述一或多个第一测试指令来执行。 | ||
| 搜索关键词： | 智能 存储器 装置 测试 | ||
【主权项】：
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