[发明专利]一种中子辐射探测器在审

专利信息
申请号: 202011472265.3 申请日: 2020-12-14
公开(公告)号: CN112599620A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 贾玉萍;黎大兵;孙晓娟;蒋科;陈洋 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H01L31/0312 分类号: H01L31/0312;H01L31/118;H01L31/18;G01T3/08
代理公司: 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 代理人: 高一明;郭婷
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供一种中子辐射探测器,器件结构包括:导电碳化硅衬底、制备于导电碳化硅衬底上的非掺SiC本征外延层、制备于SiC本征外延层上的肖特基电极、制备于肖特基电极上的BN层以及制备于导电碳化硅衬底下表面的欧姆电极;所述BN层为中子转换层,中子与BN层中的B的同位素10B发生反应形成Alpha粒子;所述非掺SiC本征外延层为Alpha粒子探测层,Alpha粒子在所述非掺SiC本征外延层中产生电子‑空穴对,在外加偏压下形成信号电流,最终实现中子探测。利用BN为中子转化层,实现中子向Alpha粒子的转换。再利用碳化硅对Alpha粒子的高分辨能力,最终实现中子的有效探测。
搜索关键词: 一种 中子 辐射 探测器
【主权项】:
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