[发明专利]一种量子场强探头和微波场强测量方法在审
申请号: | 202011467511.6 | 申请日: | 2020-12-14 |
公开(公告)号: | CN112595899A | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 靳刚;成永杰;刘星汛;黄承祖;彭博;付子豪;代明珍;齐万泉 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 南霆 |
地址: | 100854 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开了一种量子场强探头,包括顺序连接的第一暗箱、第二暗箱、第三暗箱;第一暗箱和第二暗箱通过第一光孔连接;第二暗箱和第三暗箱通过第二光孔连接;第一暗箱中包含第一准直透镜、第二准直透镜、第一二向色镜;第一暗箱壁装有第一光纤法兰盘、第二光纤法兰盘;第三暗箱中包含第三准直透镜、第四准直透镜、第二二向色镜;第二暗箱壁装有第三光纤法兰盘、第四光纤法兰盘;第二暗箱中,包含第一1/2波片、原子蒸气室、第二1/2波片。本申请还包含用上述量子场强探头进行微波测量的方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 量子 场强 探头 微波 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电计量测试研究所,未经北京无线电计量测试研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011467511.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。