[发明专利]检测图像缺陷的方法、系统、电子设备及介质在审
| 申请号： | 202011435861.4 | 申请日： | 2020-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN112598627A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 郭羽鹏;薛静;刘建;许汉荆;王云 | 申请（专利权）人： | 广东省大湾区集成电路与系统应用研究院 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人： | 刘广达 |
| 地址： | 510535 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种检测图像缺陷的方法、系统、电子设备及介质。本申请中，可以获取待检测图像以及模板图像，待检测图像中包含待检测物体，模板图像中包含待检测物体对应的标准图像；将待检测图像与模板图像进行图像融合，得到待检测融合图像；将待检测融合图像输入至预设的图像检测网络模型，得到图像检测结果；基于图像检测结果，确定待检测图像是否存在缺陷。本申请的技术方案通过利用模板图像与缺陷图像相融合的方式来增强缺陷特征，再将融合结果图像直接应用于深度学习缺陷检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 图像 缺陷 方法 系统 电子设备 介质 | ||
【主权项】：
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