[发明专利]一种双折射率的测定装置和测定方法有效
| 申请号： | 202011371090.7 | 申请日： | 2020-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN112557344B | 公开（公告）日： | 2022-04-08 |
| 发明（设计）人： | 郭文平;关淙元;夏珉;李微;杨克成 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 | 代理人： | 王世芳;曹葆青 |
| 地址： | 430074 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开一种双折射率的测定装置，属于光学与晶体学领域，其包括测量光源、扩束镜、汇聚物镜、棱镜、波片、载物台组件、物镜、镜筒、滤波片、偏振片、针孔光阑，扩束镜设置在测量光源的出射方向上，汇聚物镜设置在扩束镜出射光方向上，棱镜设置在汇聚物镜出射光方向上，棱镜的底面设置待测样品，待测样品设置在载物台组件上，物镜末端设置有镜筒，在镜筒和物镜之间设置有滤波片，镜筒内依次设置有偏振片和针孔光阑，载物台组件能升降、旋转、X方向和Y方向的移动，采集从针孔光阑出射的携带有待测样品折射率信息的出射光，从而能获得折射率。本发明装置能精确、方便地测量获得物体的双折射率信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 双折射 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
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