[发明专利]一种基于组合热敏电参数灵敏度增强的SiC MOSFET结温检测方法有效

专利信息
申请号: 202011303413.9 申请日: 2020-11-19
公开(公告)号: CN112556868B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 杨跃茹;秦海鸿;莫玉斌;陈文明;付大丰;谢利标;胡黎明 申请(专利权)人: 南京航空航天大学;南京开关厂有限公司
主分类号: G01K7/00 分类号: G01K7/00;G01R31/26
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 施昊
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种基于组合热敏电参数灵敏度增强的SiC MOSFET结温检测方法,包括以下步骤:采用控制变量法对SiC MOSFET进行温升测试;根据测试数据标定热敏电参数与其相关变量的关系曲线;根据热敏电参数与其相关变量的关系曲线得到拟合方程;对热敏电参数与其相关变量的相关性进行分析,当存在两个热敏电参数与其多个相关变量具有线性关系,并且这两个热敏电参数具有除结温外的同一相关变量,所述同一相关变量与结温对各自热敏电参数相关性的一致性相反时;消去这两个热敏电参数除结温外的同一相关变量。本发明能够在不增加检测变量的同时提高结温检测的灵敏度,有效缓解了单一热敏电参数存在除结温外影响因素多和灵敏度低的问题,提高了SiC MOSFET结温检测精度。
搜索关键词: 一种 基于 组合 热敏 参数 灵敏度 增强 sic mosfet 检测 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京航空航天大学;南京开关厂有限公司,未经南京航空航天大学;南京开关厂有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011303413.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top