[发明专利]软件系统研发质量的评价方法、系统、存储介质及电子设备在审

专利信息
申请号: 202011297114.9 申请日: 2020-11-18
公开(公告)号: CN112328490A 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 潘林圣 申请(专利权)人: 恩亿科(北京)数据科技有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06N20/00
代理公司: 青岛清泰联信知识产权代理有限公司 37256 代理人: 李红岩
地址: 100192 北京市海淀区西小口路66*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种软件系统研发质量的评价方法、系统、存储介质及电子设备,评价方法包括:数据收集步骤:收集历史研发维度指标组及所述历史维度指标组对应地历史质量分数;预测模型获得步骤:通过所述历史研发维度指标组及所述历史质量分数对初始模型进行训练获得预测模型;评价步骤:将最新研发维度指标组输入至所述预测模型进行软件研发质量评估,获得最新质量分数。基于本发明使得软件测试工程师和管理人员,无需人工对每一次软件项目质量进行各个维度的评估,仅需将客观的维度指标录入系统,即可得到质量分数结果。
搜索关键词: 软件 系统 研发 质量 评价 方法 存储 介质 电子设备
【主权项】:
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