[发明专利]一种芯片插座S参数的测试结构及其测试方法有效
| 申请号： | 202011282720.3 | 申请日： | 2020-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN112462178B | 公开（公告）日： | 2023-06-13 |
| 发明（设计）人： | 逯永广;杨晓君;杜树安;孟凡晓;王德敬 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人： | 赵永刚 |
| 地址： | 300384 天津市南开区华苑产*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片插座S参数的测试结构及其测试方法，该测试结构通过设置两套测试子结构，其中一套测试子结构中的第一基板测试板通过芯片插座连接在第一主板测试板上，通过测试一对第一连接器及对应的一对第二连接器，获取第一连接器+第一基板测试板+芯片插座+第一主板测试板+第二连接器的链路的第一S参数。第二基板测试板通过焊接方式直接连接在第二主板测试板上，通过测试第三连接器及对应的一对第四连接器，获取第三连接器+第二基板测试板+第二主板测试板+第四连接器的链路的第二S参数。通过后一链路的第二S参数对前一链路的第一S参数进行去嵌入，得到芯片插座的S参数，提高芯片插座的S参数的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 插座 参数 测试 结构 及其 方法 | ||
【主权项】：
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