[发明专利]检验静止轨道微波辐射计系统稳定性的方法、系统和装置有效

专利信息
申请号: 202011263188.0 申请日: 2020-11-12
公开(公告)号: CN112485738B 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 张志清;安大伟;杨磊;商建;刘成保;王静 申请(专利权)人: 国家卫星气象中心(国家空间天气监测预警中心)
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 代理人: 陈曦;董烨飞
地址: 100081 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种检验静止轨道微波辐射计系统稳定性的方法及其系统、装置。该方法包括如下步骤:提供与星载微波辐射计相同型号的参考微波辐射计,并将其设置于地球表面;根据星载微波辐射计,确定月球观测区域;通过地基微波辐射计和星载微波辐射计对月球观测区域进行同步观测,获取观测数据;对获取到的观测数据进行处理,计算得到月球亮温偏差;持续通过地基微波辐射计和星载微波辐射计对月球观测区域进行同步观测,并计算生成长时间序列的亮温偏差,监测静止轨道微波辐射计系统的稳定性。本发明能够监测星载微波辐射计随卫星轨道、季节变化、太阳活动等影响导致的精度波动,开展定标精度检验。
搜索关键词: 检验 静止 轨道 微波 辐射计 系统 稳定性 方法 装置
【主权项】:
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