[发明专利]高低温中波热像仪NETD测试评估装置和方法有效

专利信息
申请号: 202011254226.6 申请日: 2020-11-11
公开(公告)号: CN112461372B 公开(公告)日: 2023-08-22
发明(设计)人: 张春仙;李忠升;万英 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十一研究所
主分类号: G01J5/90 分类号: G01J5/90;G01J5/48
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心 11010 代理人: 罗丹
地址: 100015*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种高低温中波热像仪NETD测试评估装置和方法。高低温中波热像仪NETD测试评估装置,包括:NETD室温测试模块,用于获取被测热像仪的室温SiTF和室温噪声;高低温SiTF预测评估模块,与NETD室温测试模块通信连接,高低温SiTF预测评估模块用于通过修正温度应力对中波热像仪性能的影响,基于室温SiTF,预测高低温SiTF;高低温噪声测试模块,用于为被测热像仪提供不同的环境温度,并与NETD室温测试模块配合作用获取被测热像仪的高低温噪声。采用本发明,通过高低温SiTF预测评估模块可对室温SiTF进行高低温修正,通过高低温噪声测试模块可对被测热像仪实现高低温条件下的噪声测试,该方法成本低,适用于工程化研制中对热像仪NETD高低温环境下的测试与评估。
搜索关键词: 低温 中波 热像仪 netd 测试 评估 装置 方法
【主权项】:
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